Microscope à champ proche optique (SNOM / NSOM)

LovaLite distribue les microscopes à sonde locale de marque italienne, A.P.E. Research.

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Description

L'invention et le développement des techniques de microscopie à sonde locale ont produit les outils nécessaires à une avancée dans les mesures optiques.

La microscopie en champ proche optique a permis de franchir les limites de la diffraction d'Abbe, en utilisant la précision des scanners piézo-électriques conjointement avec des sondes extrêmement pointues pour obtenir des images optiques à une résolution sub-longueur d'onde.

Un soin particulier a été accordé aux différents problèmes liés aux applications de l'état solide ou biologique.

Pour cette raison, chaque SNOM doit être adapté, en ayant une vision claire de ce qui sera le principal sujet d'intérêt. Nous collaborons avec nos clients afin de leur fournir un instrument qui convienne le plus possible à leurs besoins.

Ce projet est le résultat d'une collaboration entre A.P.E. Research et l'INFM.

Caractéristiques techniques

A100-SGS Platine SPM
Platine de translation à positionnement absolu et capteurs de jauge de contrainte. Caractéristiques techniques du scanner:
X-Y:	100 x 100 μm (mode haute tension); 10 x 10 μm (mode basse tension); Résolution en mode haute tension: Boucle fermée: 2nm Boucle ouverte: 0.2nm Linéarité de la boucle fermée: 0.1%.	Z:	10 μm (mode haute tension) 1 μm (mode basse tension) Résolution: 0.16nm (mode haute tension) 0.02nm (mode basse tension)
Tête SNOM		SPMCU2-PI
Tête SNOM permettant l'acquisition simultanée des signaux optiques (jusqu'à 3: réflexion, transmission et collection) et de la topographie. Acquisition des signaux optiques par 2 photomultiplicateurs Support pour échantillon jusqu'à 30mm x 30mm Platine de déplacement: 13mm x 13mm x 13mm, servo-assisté en z 2 systèmes de vision optique intégrés à la tête SNOM: un système de vision optique pour contrôler l'approche de la pointe sur l'échantillon et un microscope inversé pour les échantillons transparents. A.P.E. Research conseille l'utilisation des pointes LovaLite. Le support de pointe convient à la plupart des pointes existantes		Unité de contrôle SPM Unité de contrôle et PC (équipé d'une carte multi entrées/sorties) contrôlant la platine, l'acquisition des données et et les déplacements de l'échantillon. La distance entre la pointe et l'échantillon est contrôlée par une boucle analogique à très faible bruit contrôlée numériquement par le PC.
Dual Démodulateur		HVA3-PI
Double démodulateur conçu par A.P.E. Research pour l'acquisition des signaux optiques.		Amplificateur haute tension Module d'amplification conçu pour piloter la tête TriA-SNOM.
Ordinateur, carte et logiciel d'acquisition
Le logiciel, fonctionnant sous Windows, est composé d'applications multi-fenêtres pour le contrôle de l'instrument et l'acquisition des données. Il est fourni avec des filtres simples permettant une analyse immédiate des images acquises. Le logiciel contrôle tous les paramètres de l'instrument. Les instruments A.P.E. Research sont fournis avec le logiciel d'analyse de donnée "open source" Gwyddion (disponible pour Windows et Linux). Le logiciel SPIP est également disponible en option.