Microscope à force atomique (AFM)

LovaLite distribue les microscopes à sonde locale de marque italienne, A.P.E. Research.

www.aperesearch.com

Description

Le microscope à force atomique A100-SGS AFM est équipé d'une platine de déplacement de l'échantillon avec asservissement à boucle fermée. Cela garantit un positionnement avec une précision absolue de 10nm (jusqu'à 10x meilleure que les autres AFM sur le marché). Cette caractéristique, associée au logiciel spécifique d'A.P.E. Research, rend cet instrument très intéressant pour la nanolithographie.

Cette platine garantit des déplacements parfaitement plan pour les utilisateurs réalisant des mesures AFM sur de large zone (jusqu'à 100μm).

A.P.E. Research a développé des modules AFM additionnels pour des modes de mesures spécifiques (EFM, MFM, cellule liquide). D'autres modules sont développés en fonction des besoins des utilisateurs ou en collaboration avec des instituts de recherches italiens.

LovaLite fournit également des étalons de calibration pour vos AFM.

Caractéristiques techniques

A100-SGS Platine SPM
Platine de translation à positionnement absolu et capteurs de jauge de contrainte. Caractéristiques techniques du scanner:
X-Y:	100 x 100 μm (mode haute tension); 10 x 10 μm (mode basse tension); Résolution en mode haute tension: Boucle fermée: 2nm Boucle ouverte: 0.2nm Linéarité de la boucle fermée: 0.1%.	Z:	10 μm (mode haute tension) 1 μm (mode basse tension) Résolution: 0.16nm (mode haute tension) 0.02nm (mode basse tension)
Tête AFM		SPMCU2-PI
Tête AFM pour modes contact, sans contact, semicontact et force latérale. Tête AFM avec support pour cantilevers du commerce. Le support peut être retiré pour un montage facile des cantilevers. La tête comprend également une source laser, une photodiode et un préamplificateur		Unité de contrôle SPM Unité de contrôle et PC (équipé d'une carte multi entrées/sorties) contrôlant la platine, l'acquisition des données et et les déplacements de l'échantillon. La distance entre la pointe et l'échantillon est contrôlée par une boucle analogique à très faible bruit contrôlée numériquement par le PC.
Ordinateur, carte et logiciel d'acquisition
Le logiciel, fonctionnant sous Windows, est composé d'applications multi-fenêtres pour le contrôle de l'instrument et l'acquisition des données. Il est fourni avec des filtres simples permettant une analyse immédiate des images acquises. Le logiciel contrôle tous les paramètres de l'instrument. Les instruments A.P.E. Research sont fournis avec le logiciel d'analyse de donnée "open source" Gwyddion (disponible pour Windows et Linux). Le logiciel SPIP est également disponible en option.